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Fiche technique
Quantité
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SMA6J8.5CA-TR

SMA6J8.5CA-TR

 STMICROELECTRONICS Oui 5000 SMA6J8.5CA-TR
10 Jours *
BSV52LT1G

SS SOT23 GP XSTR NPN 12V

 ON SEMICONDUCTOR Oui 18000 SS SOT23 GP XSTR NPN 12V
10 Jours *
MC74HC74ADTR2G

TSSOP 14/M°/DUAL D-TYPE FLIP-FLOP WITH SET AND RESET

 ON SEMICONDUCTOR Oui 2500 TSSOP 14/M°/DUAL D-TYPE FLIP-FLOP WITH SET AND RESET
10 Jours *
TLP598GA(F)

MOSFET Photo Rel. 2 ,5kV 400V 0 ,3A DIP6

 TOSHIBA Oui 16100 MOSFET Photo Rel. 2 ,5kV 400V 0 ,3A DIP6
10 Jours *
SZMMSZ4683T1G

ZEN REG 0.5W 3.0V

 ON SEMICONDUCTOR Oui 12000 ZEN REG 0.5W 3.0V
10 Jours *
STTH812FP

STTH812FP

 STMICROELECTRONICS Oui 200 STTH812FP
10 Jours *
DTA143ZET1G

DTA143ZET1G

 ON SEMICONDUCTOR Oui 15000 DTA143ZET1G
10 Jours *
MC74AC86DG

Quad 2Inp Excl OR Gate SO14

 ON SEMICONDUCTOR Oui 55 Quad 2Inp Excl OR Gate SO14
10 Jours *
MC74HC4852ADTR2G

MC74HC4852ADTR2G

 ON SEMICONDUCTOR Oui 7500 MC74HC4852ADTR2G
10 Jours *
SBC807-40LT1G

SOT23-3/PNP Bipolar Transistor

 ON SEMICONDUCTOR Oui 15000 SOT23-3/PNP Bipolar Transistor
10 Jours *
M48T18-100PC1

Timek. 5V 8kx8 100ns 0-70?? DIP28

 STMICROELECTRONICS Oui 51 Timek. 5V 8kx8 100ns 0-70?? DIP28
10 Jours *
MC74VHC1G01DFT1G

LOG CMOS GATE NAND SNGL

 ON SEMICONDUCTOR Oui 3000 LOG CMOS GATE NAND SNGL
10 Jours *
MC74AC11DG

MC74AC11DG

 ON SEMICONDUCTOR Oui 540 MC74AC11DG
10 Jours *
Z0109MN 5AA4

Z0109MN 5AA4

 STMICROELECTRONICS Oui 77 Z0109MN 5AA4
10 Jours *
MC74ACT573DWG

MC74ACT573DWG

 ON SEMICONDUCTOR Oui 673 MC74ACT573DWG
10 Jours *
OPA177GS

Op-Amp Low Offs 0 ,6MHz 0 ,3V/us SO8

 TEXAS INSTRUMENTS Oui 2520 Op-Amp Low Offs 0 ,6MHz 0 ,3V/us SO8
10 Jours *
MURD620CTG

REC DPAK 6A 200V ULTFST

 ON SEMICONDUCTOR Oui 75 REC DPAK 6A 200V ULTFST
10 Jours *
MC74VHC1G00DFT1G

LOG CMOS GATE NAND SNGL

 ON SEMICONDUCTOR Oui 18000 LOG CMOS GATE NAND SNGL
10 Jours *
LM2574N-ADJG

Buck-Schaltr. Adj 500mA 4 ,75-40Vi DIP8

 ON SEMICONDUCTOR Oui 2740 Buck-Schaltr. Adj 500mA 4 ,75-40Vi DIP8
10 Jours *
MC14011BDG

MC14011BDG

 ON SEMICONDUCTOR Oui 175 MC14011BDG
10 Jours *
* Délais moyen constatés